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• Ulrich Abelein, Oliver Bringmann, Andreas Burger, Daniel Hahn, Göran Jerke, Roland Krumm, Volker Meyer zu Bexten, Ulrich Müller-Pschorr, Thomas Nirmaier, Georg Pelz, Martin Reimer, Stefan Straube, Dieter Treytnar, Markus Tristl, "Robuster Entwurf von neuen Elektronikkomponenten für Anwendungen im Bereich Elektromobilität (RESCAR), BMBF-Verbundprojekt", Schlussbericht 2014
• Armin Grünwald, Kai Hahn, Andy Heinig, Uwe Knöchel, Malte Metzdorf, Felix Miller, Markus Olbrich, Artur Quiring, Sebastian Sattler, Dieter Treytnar, Thomas Wild, "Nanoelektronik-Entwurf für 3D-Systeme (NEEDS): BMBF-Verbundprojekt", Schlussbericht 2014
• Martin Barke, Oliver Bringmann, Jürgen Haase, Lars Hedrich, Domenik Helms, Michael Kärgel, Weiyun Lu, Malte Metzdorf, Markus Olbrich, Martin Radetzki, Felix Salfelder, Ulf Schlichtmann, Dieter Treytnar, Alexander Viehl, "Entwurf robuster Nanoelektronischer Systeme (ROBUST): BMBF-Verbundprojekt", Schlussbericht 2012
• Armin Grünewald, Kai Hahn, Andy Heinig, Uwe Knöchel, Susann Wolf, Felix Miller, Thomas Wild, Artur Quiring, Markus Olbrich, Kai Hylla, Malte Metzdorf, Sebastian Sattler, Dieter Treytnar, "NEEDS - Nanoelektronik-Entwurf für 3D-Systeme", GMM-Fachbericht; 73; 8, 2012, Zuverlässigkeit und Entwurf
• Karsten Einwich, Dieter Treytnar, "Robuste und ausfallsichere Elektronik", automobil elektronik, Nr. 2/2011
• Martin Barke, Lars Hedrich, Domenik Helms, Weiyun Lu, Markus Olbrich, Martin Radetzki, Björn Sander, Volker Schöber, Dieter Treytnar, "ROBUST: Entwurf Robuster Nanoelektronischer Systeme", newsletter edacentrum, Nr. 3/2010
• Oliver Bringmann, Joachim Gerlach, Peter Jores, Matthias Krause, Ulrich Nageldinger, Jens Stellmacher, Dieter Treytnar, Alexander Viehl, Jochen Zimmermann, "Schlußbericht: Verteilte integrierte Systeme und Netzwerkarchitekturen für die Applikationsdomänen Automobil und Mobilkommunikation (VISION)", Hannover : Technische Informationsbibliothek u. Universitätsbibliothek, 11.3.2010
• D. Treytnar, "Der Köder muss dem Fisch schmecken - nicht dem Angler", newsletter edacentrum, Nr. 2/2010
• D. Treytnar, P. Neumann, R. Popp, "Trendbericht edaTrend DAC08", edacentrum, Juli 2008
• P. Neumann, D. Treytnar, , "Trendbericht edaTrend DATE08", edacentrum, April 2008
• D. Treytnar, R. Popp, "EDA - Eine Voraussetzung für die Nanotechnologie", it - Information Technology, Nr. 46, Heft 2, April 2006
• D. Treytnar, "Der Einfluss parasitärer Effekte in Leitungssystemen der Nanoelektronik auf die Qualität von digitalen Testmustern", Dissertation, Verlag Dr. Hut, München 2005, ISBN 3-89963-278-8
• D. Treytnar, R. Popp, "Nanoelektronik schafft Mobilität", Elektronik, 26/2004, 28.12.2004
• D. Treytnar, R. Popp, J. Haase, "EDA-Forschung in Deutschland", Elektronik, Nr. 25/2003, 10.12.2003
• R. Popp, D. Treytnar, "Im siebten Himmel schweben", Elektronik Nr. 21/2003
• R. Popp, D. Treytnar, "Ein Ende wie bei der Titanic?", Elektronik Nr. 18/2003
• D. Treytnar, J. Haase, "Neuer Schwung für EDA in Deutschland", Elektronik, Nr. 19/2002, 17.09.2002
• D. Treytnar, M. Redeker, H. Grabinski, F. Ktata, "LFSR Test Pattern Crosstalk in Nanometer Technologies", Proc. 6th Workshop on Signal Propagation on Interconnects, p. 115-118, may 12-15, 2002, ISBN: 0 7803 9821 1
• Dieter Treytnar, "Kein Kabelsalat", Analyse der PrimaCom AG, Performaxx! AG, 8.12.2000
• M. Rudack, M. Redeker, D. Treytnar, O. Mende, K. Herrmann, "Self-Configuration of a Large Area Integrated Multiprocessor System for Video Applications," Proc. IEEE Intl. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp. 78-86, 2000.
• O. Mende, M. Redeker, M. Rudack, D. Treytnar, "A Multifunctional Laser Linking and Cutting Structure for Standard 0.25 um CMOS-Technology," Proc. IEEE Intl. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp. 114-122, 2000.
• Dieter Treytnar, "Die Talsohle scheint durchschritten", Update der Analyse der Teles AG, Performaxx! AG, 31.10.2000
• M. Rudack, M. Redeker, D. Treytnar, O. Mende, S. Moch "Ein grossflächig integriertes, selbstkonfigurierendes Multiprozessorsystem für die Videosignalverarbeitung", ITG-Fachtagung, Darmstadt, Nov. 21-22, 2000
• Dieter Treytnar, "Gelingt Schindler der Turnaround ?", Analyse der Teles AG im Börsenbrief 28/2000 der Performaxx! AG, 22.9.2000
• Dieter Treytnar, "UMTS kann kommen", Update der Analyse der Balda AG, Performaxx! AG, 30.8.2000
• Dieter Treytnar, "Täglich 24 Stunden geöffnet", Analyse der Openshop AG im Börsenbrief 20/2000 der Performaxx! AG, 28.7.2000
• Dieter Treytnar, "Bald(a) in jedem Handy", Analyse der Balda AG im Börsenbrief 15/2000 der Performaxx! AG, 23.6.2000
• Uwe Arz, Dylan F. Williams, David K. Walker, Janet E. Rogers, Markus Rudack, Dieter Treytnar, Hartmut Grabinski, "Characterization of Asymmetric Coupled CMOS Lines," IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, pp. 609-612, Boston, MA, June 11-16, 2000.
• Uwe Arz, Dylan F. Williams, David K. Walker, Janet E. Rogers, Markus Rudack, Dieter Treytnar, Hartmut Grabinski, "Broadband Measurement of Asymmetric Coupled Lines Built in a 0.25 um CMOS Process," 4th IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects, 2000, 16-19 May, Magdeburg, Germany
• H. Grabinski, D. Treytnar, U. Arz, F. Ktata, P. Nordholz, "Influence of Frequency-Dependent Characteristics on Deep Submicron Crosstalk Simulations", European Conference on Circuit Theory and Design, 29.8.-2.9.1999, Stresa, Italy, Proceedings, pp. 543-546.
• P. Nordholz, D. Treytnar, J. Otterstedt, H. Grabinski, D. Niggemeyer, T. W. Williams, "Signal Integrity Problems in Deep Submicron arising from Interconnects between Cores", VLSI Test Symposium, VTS 98, Proceedings, Monterey, April 26-30, 1998.Sst
• P. Nordholz, D. Treytnar, H. Grabinski, J. Otterstedt, D. Niggemeyer, U. Arz, T.W. Williams "Core Interconnect Testing Hazards", Design, Automation and Test in Europe, DATE 98, Proceedings pp 953-954, Paris, February 23-26, 1998.
• P. Nordholz, D. Treytnar, J. Otterstedt, H. Grabinski, D. Niggemeyer, U. Arz, T.W. Williams "Deep Submicron Interconnect Coupling with Cores", 1st IEEE International Workshop on Testing Embedded Core-based Systems, TECS 97, Washington, D.C., November 5-6, 1997.
• H. Grabinski, P. Nordholz, D. Niggemeyer, J. Otterstedt, D. Treytnar, U. Arz, T. W. Williams, "Deep Submicron Signal Integrity and Testing", IEEE European Test Workshop, ETW 97, Cagliari, May 28-30, 1997